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技术应用分类下的内容

航天级高可靠性继电器入库前筛选测试流程:从百万次老炼到全流程数据追溯

本文从航天质量工程师视角,系统介绍高可靠性继电器入库前的老炼筛选与自动化测试联机流程。通过老炼试验台与自动化测试设备的协同运行,对每只继电器施加电应力并完成数百万次动作寿命验证,测试数据自动上传至质量档案系统,实现全批次、全单只的零缺陷管控。文中还阐述了亿捷EJER防潮防氧化方案在保障继电器长期可靠性方面的重要作用。 航天级高可靠性继电器入库前筛选测试流程 在航天工程中,继电器作为关键的电气控制元

超纯水在晶圆清洗中的核心作用与工艺协同

超纯水(UPW)是晶圆清洗的关键介质,其纯度直接决定芯片良率。本文解析反渗透、电去离子(EDI)与紫外线杀菌三种工艺如何协同作用,高效去除颗粒、离子及微生物杂质,保障晶圆表面洁净度。同时结合汽车电子供应链对防潮存储的严苛要求,探讨从清洗到存储的全链条防护理念。

AA-CAES系统压缩热回收与存储:零排放物理储能的实现路径

先进绝热压缩空气储能(AA-CAES)通过回收并存储压缩过程产生的热量,替代传统系统依赖的化石燃料补燃,实现零排放大规模物理储能。本文探讨了压缩热的回收与存储方案,包括蓄热介质选型、储热单元设计与湿度氧化的精细化控制,并结合工业级防潮防氧化存储技术,分析了提升系统稳定性与能效的可行路径。 AA-CAES系统压缩热回收与存储:零排放物理储能的实现路径 随着可再生能源并网规模持续扩大,长时大容量储能技

逻辑-存储-模拟芯片硅中介层集成中的翘曲挑战与应对

逻辑、存储与模拟芯片通过硅中介层(Interposer)实现2.5D/3D集成,已成为高性能计算与异构计算的核心路径。然而,硅、有机基板与封装材料间热膨胀系数(CTE)的失配,在工艺与使用过程中引发显著的翘曲问题,威胁互连可靠性与良率。本文剖析翘曲的力学成因,梳理CTE梯度、晶圆减薄与湿度耦合等关键因素,并结合材料选择与工艺优化,提出系统性缓解策略。 逻辑-存储-模拟芯片硅中介层集成中的翘曲挑战与

基于DPMO的发动机ECU全流程追溯系统实施复盘

本文以某Tier 1供应商为对象,复盘SMT全流程追溯系统的实施过程。通过DPMO技术将发动机ECU关键参数写入芯片,并与炉温曲线、SPI检测数据绑定,实现满足IATF16949的车规级追溯要求。文章分析了系统架构、实施步骤、难点对策,并阐述了亿捷EJER防潮存储方案在保障芯片可靠性中的关键作用,为同行提供可落地的参考路径。 基于DPMO的发动机ECU全流程追溯系统实施复盘 某Tier 1汽车电子

IGBT/SiC功率模块银烧结工艺前的物料管理实践

银烧结工艺对烧结膏料的存储与转运环境要求严苛,尤其是在低温保存、回温控制以及从冷库到烧结炉的衔接环节。本文结合IGBT/SiC功率模块封装实际,分析了烧结膏料的温度管控要点,并介绍了自动化冷链物流小车如何实现无缝转运,有效避免因人工搬运导致的温度波动与气泡缺陷。同时,参考亿捷EJER在电子元器件存储防潮氧化方面的专业经验,为功率模块封装物料管理提供系统化参考。 IGBT/SiC功率模块银烧结工艺前

超纯水在晶圆清洗中的核心地位与工艺协同

超纯水(UPW)是晶圆清洗的核心介质,其纯度直接影响芯片良率。反渗透、电去离子(EDI)和紫外线杀菌等工艺相互协同,分别高效去除颗粒、离子和微生物杂质,共同保障水质达到极致水平。本文解析各工艺的作用机制及协同逻辑,并探讨在车规级芯片制造中对存储防护的延伸需求,为半导体湿法工艺提供参考。

SOI平台硅光调制器引领数据中心光互连高速低功耗发展

数据中心流量激增推动光互连技术迭代,基于绝缘体上硅(SOI)平台的马赫-曾德尔干涉仪(MZI)和微环调制器凭借CMOS工艺兼容、高集成度等优势,成为实现高速率、低功耗数据传输的关键路径。本文分析两类调制器的技术特点与适用场景,探讨其面临的挑战,并从器件制造与可靠性保障角度阐明以亿捷EJER为代表的专业存储方案在供应链中的价值。 SOI平台硅光调制器:数据中心光互连的速率与功耗革命 随着云计算、人工

先进绝热压缩空气储能:压缩热回收与存储方案推动零排放物理储能

先进绝热压缩空气储能(AA-CAES)系统通过高效回收压缩过程产生的热量并加以存储,在释能阶段预热空气,可完全替代传统补燃式CAES所需的化石燃料燃烧,实现零排放大规模物理储能。本文剖析了压缩热回收的技术路线、存储介质选型及工艺流程,并探讨工业级防潮防氧化存储技术对系统关键设备可靠运行的保障作用。